1668芯片怎样测好坏

要测试一个1668芯片是否正常工作或坏掉，可以考虑以下几种方法：

1. 功能测试：使用正常工作的电路板或设备，将1668芯片连接到电路中，并进行相应的功能测试。确保芯片能正确执行其预期的功能和操作。可以使用开发板、测试设备或编程工具来验证芯片的功能。

2. 硬件检查：仔细检查1668芯片是否有可见的物理损坏或异常。检查芯片引脚是否完好无损、焊接是否牢固、外观是否有明显的破损等。如果有损坏或异常，可能需要更换芯片。

3. 电气特性测试：使用测试设备，例如万用表或逻辑分析仪等，对1668芯片进行电气特性测试。测量芯片各引脚的电压、电流、频率等参数，确保符合规格要求。

4. 软件测试：编写适当的测试代码来对1668芯片进行软件层面的测试。通过运行测试用例，验证芯片在各种条件下的稳定性、可靠性和性能表现。

5. 故障排除：如果芯片未正常工作，可以使用故障排除技术来确定故障原因。例如，使用示波器检查信号波形是否正确，或者排除其他元件和外部电路可能引起的问题。

请注意，上述方法只是常规建议，具体的测试方法可能因芯片型号、应用环境和测试设备的可用性而有所不同。如果需要更具体的测试方法，建议参考芯片的制造商提供的文档、手册或技术支持。

单向可控硅的检测：

万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。

2. 双向可控硅的检测：

用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。

确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。