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一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。具体如下：
1、比较法：比较法不需要计算晶粒、截距。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度一般存在一定的偏差（±0.5级）。评估值的重现性与再现性通常为±1级。
2、面积法：面积法是计算已知面积内的晶粒个数，利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度在于计算晶粒度的函数，通过合理计数可实现±0.25级的精确度。面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0.5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数
3、截点法：截点数是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数，利用单位长度截点数来确定晶粒度级别数。截点法的精确度在于计算截点数和截距的函数，通过有效的统计结果可达到±0.25级的精确度。截点法的测量结果是无偏差的，重现性和再现性小于±0.5级。对于同一精度水平，截点法由于不需要精确标记截点和截距数，因而较面积法测量快。
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